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基于SHT30型号温湿度传感器短路失效的研究分析
简介:孔成林(1989.09),男,汉,河南省郑州,中级工程师,格力电器(郑州)有限公司,电子领域失效分析可靠性研究。
摘要:本文通过对SHT30型号温湿度使用过程的短路失效研究,过程排查验证,失效机理研究,结合温湿度传感器参数特性,对影响其质量可靠性的因素进行全面分析。最终锁定温湿度传感器短路失效原因为电解电容残留电压击穿短路,并给出相应的整改对策。通过此项问题的研究,对全面、系统化提升产品生产过程质量可靠性起到了重要作用。
关键词:温湿度传感器;短路;电解电容;残留电压
一 、引言
近年来,随着无线传感器技术的发展和进步,无线传感器网络被越来越多的应用到环境监测领域,传感器节点是构成无线传感网络的关键部分。温湿度传感器作为传感器一种,其工作原理是把空气中的温湿度通过特定检测装置测量到温湿度后,按一定的规律变换成电信号或其他所需形式的信息输出,用以满足用户需求。
2022年,行业某产品在使用SHT型号温湿度传感器时,测试岗位陆续反馈多单故障,通过现场跟进及分析,锁定故障原因为所使用温湿度传感器短路失效导致,根据温湿度传感器参数特性,初步分析为温湿度传感器受到外界电压或者电流击穿导致,故对其失效模式及机理进行分析研究。
二、温湿度传感器工作原理及失效分析
1、SHT30温湿度传感器工作原理
SHT30是瑞士Sensirion公司基于CMOSens芯片技术推出的一系列温湿度一体化传感器之一,将CMOS芯片技术与传感器技术相结合,其应用在一定程度上方便了嵌入式系统的环境温湿度测量,具有体积小、实时性较强、灵敏度好、可自校准、能够稳定检测温湿度并做到快速响应等优点【1】,其工作原理是把空气中的温湿度通过特定检测装置测量到温湿度后,按一定的规律变换成电信号输出。
2、失效分析
失效模式
温湿度传感器共8个引脚,其中PIN1—PIN7对PIN8(GND)具有二极管特性,失效温湿度传感器PIN4(时钟脚)、PIN5(电源脚)对地短路,失去二极管特性,如图2(左)对比正常品使用X光观察,失效温湿度传感器内部金线正常,无交叉短路、金线塌丝等,晶圆无银浆爬高、焊料残留异常,如图2(右),排除内部结构异常,分析为晶圆本身失效,需进一步进行化学开封分析。
微观分析
针对多个故障件去除封装树脂后和正常品对比观察,发现晶圆表面疑似存在电损伤痕迹,如图3所示,分析温湿度传感器在某个环节受到电磁脉冲损伤,电磁脉冲引起的瞬态过电压或电涌效应对电子电路还会造成硬损伤, 主要表现为半导体器件的短路, 开路, PN 结击穿, 氧化层击穿等【2】。因此需要从温湿度传感器来料、使用过程、测试过程进行全方面排查静电(ESD)/过电(EOS)来源。
三、过程排查验证
1、失效工序
该产品为双面锡膏板,U1(温湿度传感器)先进行B面贴装并回流焊接,之后A面贴片元件并再次回流焊接,通过在各工序间增加额外的测试环节验证,排除传感器来料短路以及B面AOI之前各生产环节导致失效的可能,锁定失效环节在A面印刷——A面AOI之间,具体生产流程如下:
2、静电(ESD)/过电(EOS)排查
静电(ESD)
根据工序排布,在A面印刷至AOI检验之间从静电、过电两个方面进行排查。针对涉及到的物料、设备、人员等各方面进行防静电测试,各个环节静电电压均小于50V(要求<249V),排除生产过程静电导致温湿度传感器失效的可能。
过电(EOS)
对失效环节各工序进行设备接地可靠性排查,各设备接地情况良好,过程无漏电、异常放电隐患。器件筛选采用2V源电压,无异常放电导致温湿度传感器失效的隐患。功能测试电压波形稳定,无尖端电压产生(如图4),且功能测试工序不在失效工序内,排除功能测试过程过电击穿的隐患;
3、储电器件排查
该显示板涉及使用10颗贴片电解电容为储电器件,通过对电容残留电压测试,发现部分电容残留电压超过温湿度传感器承受电压,贴片电解电容在温湿度传感器之后贴装,其中4颗1202编码电解电容(25V,100uf)和温湿度传感器在同一电路中,存在残留电压过大导致温湿度传感器击穿的隐患。
4、模拟验证
针对电解电容存在残留电压情况,安排进行放电后使用,持续跟进生产测试无下线异常。采用该电解电容充电后对温湿度传感器进行放电验证,复现了温湿度传感器PIN4、PIN5对地出现阻值偏小、短路故障现象。
四、失效机理
在该产品上,储电电解电容共计使用6处,4颗电容为5V电路的滤波电容,2颗电解电容为12V电路的滤波电容。温湿度传感器不涉及12V电路连接,分析引起传感器过电失效的为5V电路内电解电容。电解电容正极连接温湿度传感器PIN5(Vdd),PIN6(复位脚)和PIN5在主板电路上短接,电解电容负极和温湿度传感器PIN8(GND)共地,即4颗电解电容正负极和温湿度传感器形成电流回路(如图5),电解电容贴装时残留电压对温湿度传感器第5脚放电导致击穿短路。
五、结论及对策
通过对温湿度传感器失效分析,锁定失效原因为贴片电解电容存在残留电压,在贴装过程对温湿度传感器产生电磁脉冲,导致温湿度传感器击穿短路。整改方向如下:
1、电容厂商在生产及出货过程增加对于残留电压的检测,防止客户端使用过程残留电压对其它元器件的损伤;
2、通过研发新型材料或技术,提升温湿度传感器耐电压能力;
3、研究EOS(过电)失效的重要任务之一就是确定 ESD 放电路径【3】,可以从PCB设计放电路径方面进行优化,提升使用可靠性。
[1] 徐业,尹煜,叶飞,叶雷,石璇,宋瑞刚. 城市轨道交通列车车厢温湿度检测调控系统[J]. 轻工科技 , 2020年10期
[2] 吴淑忠, 张振新. EMP对电子电路的影响及其防护[J]. 电子质量, 2008年08期
[3] 邱亮,张之圣. ESD的物理失效分析及放电路径的研究[J]. 电子测量技术,2007年03期






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